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SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機

SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機,光譜范圍為2.7 – 5.3um,具有640像素的高空間分辨率,可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料,分析碳氫化合物和礦物,檢測金屬表面的污染。
產品時間:2020-05-19
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SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機

SPECIM 位于芬蘭的奧盧,是世界上早提供商用高光譜分光器的制造商,至今已有二十余年高光譜產品生產歷史,其產品質量和銷量也是的。產品范圍分布比較廣泛,包含工業高光譜相機、實驗室高光譜成像系統以及機載高光譜遙感系統,產品涵蓋VNIR、NIR、SWIR、MWIRLWIR各個波段,為用戶提供全面的高光譜成像解決方法,這些產品滿足了工業客戶、系統集成、科學和研究客戶不同的需求。

SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機,光譜范圍為2.7 – 5.3um,具有640像素的高空間分辨率,可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料,分析碳氫化合物和礦物,檢測金屬表面的污染。

技術參數:

型號

FX50

光譜范圍

2.7 - 5.3 μm

光譜采樣/pixel

8.44 nm

光譜波段  

154

光譜分辨率(FWHM)

35 nm

空間像素數  

640

像素大小

30 μm

大幀速

380 fps

FOV

24 °, 45 °, 60 °

探測器

InSb

動態范圍

1600:1 with 1.5 ms exposure time

相機控制接口

GigE Vision, Custom ethernet

電源輸入

24 V DC

功耗

Max 90 W; Typical 40 W

尺寸 (L x W x H)

280 x 202 x 169 mm

重量

7 kg

存儲溫度

-20—+50  ℃

工作溫度

+5 —+40 ℃

產品特點

•光譜范圍為2.7 – 5.3um

•640像素的高空間分辨率

•380 Hz的高成像速度

•溫度穩定的光學元件

•內置圖像校正

•GigE Vision標準界面

•易于安裝到工業環境

可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料,分析碳氫化合物和礦物,檢測金屬表面的污染。

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